Plane Ruled rist 400l/mm 430nm-2000nm

• Utvidet bredbåndsdekning: Optimalisert for 430nm-2000nm-området, som spenner over hele det synlige spekteret og strekker seg godt inn i det nær-infrarøde området. Dette enkeltgitteret muliggjør allsidig instrumentdesign som er i stand til å dekke flere bruksbehov.
• Optimalisert 400 l/mm sportetthet: 400 l/mm sportetthet gir en ideell balanse mellom spektral oppløsning og lysgjennomstrømning over et bredt bølgelengdeområde. Denne lavere tettheten sikrer høy effektivitet i NIR-området der lengre bølgelengder krever bredere sporavstand for optimal ytelse.
• Presisjon styrt for lavt strølys: Avanserte hersketeknikker skaper jevne, nøyaktige rilleprofiler som minimerer spredning og sikrer at diffraksjonseffektiviteten i plangitteret omsettes til rene spektraldata med høyt signal-til-støyforhold over hele området.
• Alternativer for bredbåndsbelegg: Tilgjengelig med beskyttet aluminium eller forbedret bredbåndsbelegg spesielt utviklet for å opprettholde høy reflektivitet fra det synlige gjennom NIR, og maksimere systemgjennomstrømningen.
• Utmerket bølgefrontkvalitet: Produsert på høy-kvalitetssubstrater med eksepsjonell flathet, som garanterer minimal bølgefrontforvrengning-kritisk for å opprettholde fokus og oppløsning i optiske systemer som opererer over brede spektralområder.

Dette allsidige planrefleksjonsgitteret er en ideell komponent for instrumenter som krever bred spektral dekning fra synlig til nær-infrarødt:

UV-Vis-NIR-spektrofotometre: Fungerer som det dispersive kjerneelementet for multi-instrumenter som analyserer prøver på tvers av de synlige og nære-infrarøde områdene.

• NIR-prosessanalyse: Viktig for industrielle prosesskontrollapplikasjoner, inkludert sortering av landbruksprodukter, farmasøytisk ingrediensverifisering og polymeranalyse der spektrale signaturer vises i NIR-regionen.
• Plane Grating Monochromator: Perfekt for monokromatorer brukt i justerbare lyskilder, slik at et enkelt gitter kan dekke både synlige og NIR-bølgelengder uten å endre komponenter.
• Materialkarakterisering: Brukes i instrumenter som måler reflektans, transmittans og absorbans for materialer med spektrale egenskaper som spenner over det synlige til NIR-området.
• Optisk komponenttesting: Egnet for testsystemer som evaluerer ytelsen til filtre, belegg og andre optiske komponenter over brede bølgelengdeområder.